Das Geschäftsfeld Mikrofertigungsverfahren des Fraunhofer ISIT bietet neben der Evaluierung von kompletten Baugruppen auch die Bewertung von Leiterplatten und Bauteilen der Elektronikproduktion an. Im Fokus stehen dabei die Benetzungseigenschaften der Leiterplattenpads und der Bauteilanschlüsse, die als Grundlage für die Lötbarkeit dienen. Die Benetzbarkeit und Lötbarkeit von Leiterplatten- und Bauteilmetallisierungen lassen sich durch Standardtests (z.B. IPC-J-STD 002, IEC 68-2-20, IEC 68-2-54, IEC 68-2-58) testen.
Folgende Prüfungen zur Bewertung der Benetzbarkeit und Lötbarkeit von Substratmetallisierungen und Bauteilanschlüssen sind im Fraunhofer ISIT durchführbar:
- Benetzungskraftmessung mit der Benetzungswaage (wetting balance test) mit Videobeobachtung und – dokumentation
- In situ- Beobachtung des Aufschmelzverhaltens
- Aufschmelzen von Lotpasten und Preforms auf einem benetzbaren Substrat bei Verwendung eines Lottiegels (z.B. bei Temperaturen von 235°C/245°C) – Prüfung der Benetzungseffizienz
- Messung des Lotausbreitungsverhaltens (spreading)
- Randwinkelmessung im Querschliff oder mittels Laserscan Mikroskop
- Lotaufschmelzprüfung (Solder Balling) auf nicht benetzbarem Substrat