Sensor + Test 2025

Besuchen Sie unsere Expert*innen auf der Sensor + Test 2025!

Sie sind gespannt, was wir so vorstellen werden? Weiter unten finden Sie Infos über unsere Exponate!

Unsere Forscher*innen werden die folgenden Themen auf der Sensor + Test im Mai präsentieren:

PowderMEMS

  • PowderMEMS®-Technologie für innovative Mikrosysteme
  • AMR-Stromsensor mit monolithischen Bias-Magneten
  • Monolithischer Back-Biased Hall-Sensor
  • PFAS-freie Umweltschutzkappen für MEMS-Gas- und Drucksensoren

PowderMEMS

Fraunhofer ISIT hat ein patentiertes Verfahren zur Herstellung dreidimensionaler Mikrostrukturen auf Wafer-Ebene entwickelt. Diese Technologie ermöglicht die Integration von Mikromagneten, thermischer Isolation und mikrofluidischen Kanälen in next-generation Mikrosystemen. PowderMEMS® bietet entscheidende Vorteile gegenüber anderen Verfahren und ermöglicht eine präzise Gestaltung von 3D-Strukturen.

Anwendungsbeispiele sind magnetische MEMS, Mikrofluidik und Mikroelektronik. Besuchen Sie unseren Stand und erfahren Sie mehr über die einzigartigen Möglichkeiten der PowderMEMS®-Technologie!

 

Mehr Info

Das Fraunhofer ISIT präsentiert einen AMR-Stromsensor, der NdFeB-Permanentmagneten auf Wafer-Ebene integriert. Diese innovative Technik ermöglicht eine kompaktere Bauweise und reduziert die Produktionskosten, da externe Bias-Magnete entfallen. Der ADK769 funktioniert wie herkömmliche Sensoren und eignet sich für diverse mikroelektronische Anwendungen. Besuchen Sie unseren Stand und erfahren Sie mehr über diese zukunftsweisende Technologie!

 

Das Fraunhofer ISIT und IIS präsentieren den weltweit kleinsten Back-Biased 3D Hall-Sensor. Durch die Kombination der bewährten HallInOne®-Technologie mit PowderMEMS®-Mikromagneten werden Bias-Magnete direkt auf Wafer-Ebene integriert. Dies eliminiert die Notwendigkeit für externe Montage und ermöglicht eine anwendungsspezifische Gestaltung des Biasfelds.

 

 

Das Fraunhofer ISIT bietet mit dem innovativen PowderMEMS®-Prozess PFAS-freie, gasdurchlässige Umweltschutzkappen, die direkt in 8”-Wafer aus Silizium integriert sind. Diese Kappen schützen MEMS-Sensoren vor schädlichen Umwelteinflüssen wie Partikeln und Feuchtigkeit, während sie gleichzeitig die Notwendigkeit für separate Chipprozesse eliminieren.

 

Sensor + Test

Die SENSOR+TEST ist das weltweit führende Forum für Sensorik sowie Mess- und Prüftechnik, das zahlreiche Unternehmen und Besucher aus verschiedenen Ländern anzieht. Die Veranstaltung bietet eine Plattform für den Austausch von Fachwissen und Entwicklungen in der Branche.

Fraunhofer ISIT
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